yy.vip易游-无锡宜扬半导体申请CIS探针卡量测设备校准处理方法专利提高了校验过程的准确性

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　　国家知识产权局信息显示，无锡宜扬半导体有限公司;深圳市弘测精密科技有限公司申请一项名为“一种CIS探针卡量测设备校准处理方法”的专利，公开号CN121679451A，申请日期为2025年12月。

　　专利摘要显示，本发明公开了一种CIS探针卡量测设备校准处理方法，涉及设备校准领域，包括以下步骤：获取CIS参考样本的芯片基础信息和多维校验参考数据；根据多维校验参考数据调整数据采集终端，通过数据采集终端获取CIS待测样本的数据采集信息；根据历史数据采集信息构建校验误差分析模型获取不同校验结果和校验结果的误差源；对不同的校验结果和校验结果的误差源进行聚类关联分析，根据分析结果构建校验误差分析图谱；根据校验误差分析图谱对数据采集信息所对应的校验结果和对应的误差源进行误差验证，根据验证结果进行误差补偿；根据误差补偿结果对CIS待测样本进行重新校验，获取校验结果；本发明提高了校验过程的准确性。

　　天眼查资料显示，无锡宜扬半导体有限公司，成立于2023年，位于无锡市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡宜扬半导体有限公司专利信息4条，此外企业还拥有行政许可4个。

　　深圳市弘测精密科技有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1393.1992万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市弘测精密科技有限公司共对外投资了3家企业，专利信息11条，此外企业还拥有行政许可8个。

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